半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

标准名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
标准编号：GB/T 42848-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版 简介

GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

标准编号：GB/T 42848-2023

规范名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

该国家标准规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。

该国家标准适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院

起草人：何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟

GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法(图)

*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。