微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-04-01
标准编号：GB/T 43088-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版 简介
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
标准编号：GB/T 43088-2023
规范名称：微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
该国家标准规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。
该国家标准适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司
起草人：孟杨、鞠新华、马通达、崔桂彬、王泽鹏、王雅晴、朱国森、付新、史学星、闫贺、严春莲
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法(图)
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